涉偷运辉达晶片到中国美司拘捕2华人

责任编辑: 国际小编

（华盛顿9日综合电）正当美国总统特朗普宣布将放行辉达H200晶片出口中国之际，美国司法部周一宣布，2名中国籍男子因涉嫌偷运辉达H200和H100晶片往中国而被捕。

根据司法部声明，居住在纽约的43岁中国公民龚凡月（音译）和58岁华裔加拿大公民袁本林（音译），涉嫌与香港一家物流公司及中国一间人工智能公司串谋，透过欺诈行为绕过出口管制，走私辉达H200和H100晶片。

法院文件显示，检方指控龚男透过代购和中间商采购辉达晶片，声称将供货给美国或台湾及泰国等第3地业者。这些晶片被运往美国多个仓库后，辉达的标签被撕掉，换上假公司的标签，之后准备将这些晶片出口。

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